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3D 粗糙度重建系统

更新时间:2024-01-02
产品型号:
所属分类:拓展软件
描述:通过 3D 粗糙度重建系统软件,飞纳台式扫描电镜能够产生二维图像和进行亚微米粗精度测量从一个 2D 平面图像里区分凹痕,划痕,毛刺等通常很闲难。3D 图像直观,能被大多数用户接受并能更好的解释样品特点。测量平均粗糙度和粗糙高度对于了解和控制生产过程很关键,相对于传统的(间接) 测量手段,3D 粗精度重建软件通过分析电镜图像,能够获得更高的精度。
详情介绍

借助 3D 粗糙度重建系统,飞纳台式扫描电镜(SEM)可以生成样品的三维图像,并进行亚微米量级的粗糙度测量。基于“阴影显形"技术,3D 成像有助于展示样品特征。

3D

3D 图像可以帮助用户更好地理解样品特点,使得在 2D 图像中很难分辨的凹坑、划痕、刻纹等特征,变得清晰可见。 

粗糙度 

平均粗糙度(Ra)及粗糙高度(Rz)的测量对于生产工艺的控制和改进具有重要意义。使用 SEM 图像作为信息收集手段,可以获得比传统(非直接)手段更佳的分辨率。3D 粗糙度重建模块是飞纳台式扫描电镜的理想扩展,特别适用于下列领域: 

• 机械加工的质量控制 

• 纹理分析 

• 证物鉴定 

• 缺陷 & 失效分析 

• 摩擦学-磨损分析

3D 粗糙度重建系统可在包含多个飞纳台式扫描电镜(SEM)特定应用程序的 Phenom ProSuite 中获得。 

3D 粗糙度重建系统的主要优点:

 • 远优于光学或机械测量手段 

    - 高分辨率

    - 可测量反光样品 

    - 直接测量

    - 非破坏性 

• 创新性全自动用户界面 

• 基于“阴影显形",无需倾斜样品 

• 完整解决方案 

• 快速重建

• 直观的用户界面

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