飞纳扫描电镜结合孔径统计分析测量系统，能够轻松生成并分析扫描电镜（SEM）图像。一体化孔径统计分析测量系统能够使用户获得孔径的分布状态、孔隙参数如孔径尺寸和长宽比。全自动化的孔径统计分析测量系统提供超越光学显微镜观察水平的结果，带来进一步的探索和创新。生成报告时，可以把柱状图和生成的图像以选定的格式输出。
孔径统计分析测量系统使用户更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔径详细信息。孔径统计分析测量系统拉开了孔径测量软件的大幕。在探究多孔结构对材料孔隙率和过滤工艺的影响时，这种分析尤其重要。
1）从飞纳电镜中直接获取图像
2）测量孔径的属性数据，如面积、长轴、短轴等
3）操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排简单化可预测
4）图像采集自由化，数据可存储在网络和 U 盘，便于分享、交流和参阅
5）导出统计数据时，可同时导出清晰图片
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