全自动扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率电子显微镜，它通过电子束扫描样品表面，通过对电子束的反射、散射、透射等特征进行检测，获取样品的形貌、结构、成分等信息。相比传统光学显微镜，SEM具有更高的分辨率和更大的深度，能够观察到更小的样品细节和更高的放大倍数。
全自动扫描电子显微镜广泛应用于材料科学、电子、生物医学、纳米技术等领域中，能够对各种材料的结构和性质进行分析和研究，如金属材料、陶瓷材料、聚合物材料、生物样品等。其能够提高材料研究和生产的效率和质量，为科学研究和工业生产提供强有力的支持。
全自动扫描电子显微镜的主要特点如下：
高分辨率：SEM能够实现亚纳米级别的高分辨率观测，能够观察到样品的微观结构和成分。
大深度：SEM能够观察到样品的深层结构，深度可以达到数十微米。
全自动化：SEM采用计算机控制系统，能够实现全自动化的操作，提高测试效率。
显示直观：SEM采用数字化显示屏，显示直观，能够对样品进行实时观测和分析。
多功能性：SEM能够实现多种分析功能，如成分分析、晶体结构分析、磁性分析等。
易于操作：SEM操作简便，能够快速进行样品的准备和测试。
