复纳科学仪器(上海)有限公司
资料下载
您现在所在位置:首页 > 下载中心 > 如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”

如何呈现扫描电镜样品表面的“真实形貌”

 发布时间:2019/8/28 点击量:1761
  • 提 供 商:

    复纳科学仪器(上海)有限公司

    资料大小:

  • 图片类型:

    资料类型:

    PDF
  • 下载次数:

    173

    点击下载:

    文件下载    

详细介绍:

扫描电子显微镜(SEM)是依靠电子束与样品相互作用产生俄歇电子、特征 X 射线和连续谱 X 射线、背散射电子等信号,对样品进行分析研究。

 

扫描电镜在表征样品时,受诸多参数的影响,不同类型样品应选用合适的参数,才能呈现出样品更真实的表面信息。如在不同的加速电压下,电子束与样品作用所获得的信号会有很大的差别。从理论上说,入射电子在样品中的散射轨迹可用 Monte Carlo 的方法模拟(如图1 所示),并且推导得到入射电子大穿透深度 Zmax。

 

Zmax=0.0019(A / Z)1.63E01.71

 

图1 电子在钛(Ti)金属中的运动轨迹

传真:

邮箱:[email protected]

地址:上海市闵行区虹桥镇申滨路 88 号上海虹桥丽宝广场 T5,705 室

版权所有 © 2018 复纳科学仪器(上海)有限公司   备案号:津ICP备89559138号    技术支持:  GoogleSitemap