全自动颗粒分析系统是一种用于测量和分析物体颗粒特征的设备。它基于光学原理和图像处理技术，可以对物体中的颗粒进行实时、准确地检测和计数。
其运行原理如下：
激光照射：系统通过激光器发出一束单色、聚焦的激光，在待检测样品上形成一个细小的照射点。
散射信号接收：当激光照射到样品表面时，颗粒会散射部分光线。探测器接收并记录这些散射信号。
光学透镜系统：系统使用透镜将样品上的散射信号集中到探测器上，以获得清晰可见的图像。
图像处理与分析：通过高速图像采集模块，将获取到的散射信号转化为黑白二值图像。然后利用图像处理算法进行边缘检测、噪声去除等操作，最终得到每个颗粒在图像中的位置和大小信息。
颗粒参数计算：根据得到的颗粒位置和大小信息，系统可以计算出各种颗粒参数，如颗粒的直径、圆形度、角度等。
数据分析和显示：系统将计算得到的颗粒参数与预设标准进行比较，根据设定的阈值判断颗粒是否符合要求。同时，可以通过软件界面将数据以图表或报告形式展示出来。
全自动颗粒分析系统可以广泛应用于各种行业和领域，如制药、食品加工、材料科学等，用于检测和分析样品中的颗粒特征，并提供可靠的质量控制和研究参考。
