由于增材制造的重要性日益提高，颗粒分析变得越来越重要，导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量大化外，制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。

在本篇文章中，将讨论如何使用 Nebula™ 颗粒分散器实现颗粒均匀分散，并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。

分散粉末样品的原因

为了确保颗粒分析的准确性，不仅需要分离单个颗粒，而且还要分离附着物。图 1 显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 Nebula™ 颗粒分散器之间的区别。

图1：将粉末样品直接涂覆到碳导电胶（左）和使用 Nebula™ 颗粒分散器（右）之间的扫描电镜图比较。

Nebula™ 颗粒分散器进行样品制备

Nebula™ 的使用步骤如下图所示。 在开始之前，操作者移除圆柱并取出样品台（通常由铝制成）。先在样品台上粘贴多孔碳导电胶（a），再将样品台放置在 Nebula™ 基座上（b）。盖上圆柱，打开真空阀（c），使真空仓内的压力迅速降低。

操作者可以通过观察压力计，调节仓内的真空度（d）。一旦真空处于正确的水平，关闭真空阀（e）并将样品放在真空仓的顶部（f）。向下按压杠杆释放真空（g），使空气流入仓内。 一旦仓内的气压与环境一致，就可以移除真空仓，并进行成像（h）和分析（i）。

分散粉末后需要做什么呢

当样品中的颗粒均匀分散后，就可以使用扫描电镜（SEM）开始分析样品。飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统是专门为颗粒分析设计的。该软件可以帮助用户根据不同参数（如直径，圆度或灰度）来分析颗粒。 通过数据中的异常值，用户可以使用 EDX 进行元素分析，从而获得更好的解决方案。